Awaji S., Izumi T., Shiohara Y., Kato T., Matsumoto K., Ichino Y., Tanaka N., Yoshizumi M., Saitoh K., Tsuruta A., Miura S., Sugihara K., .Ichinose A.
Osamura K., Hojo M., Sugano M., Wada H., Itoh K., Kitaguchi H., Kumakura H., Ochiai S., Kuroda T., Okuda H.
Ключевые слова: HTS, Bi2223, tapes, n-value, critical caracteristics, critical current, mechanical properties, bending process, experimental results, damage mechanisms
Osamura K., Hojo M., Sugano M., Wada H., Itoh K., Kitaguchi H., Kumakura H., Ochiai S., Kuroda T., Okuda H.
Osamura K., Hojo M., Sugano M., Wada H., Itoh K., Kitaguchi H., Kumakura H., Ochiai S., Kuroda T., Okuda H.
Ключевые слова: HTS, Bi2223, tapes, mechanical properties, bending process, critical caracteristics, critical current distribution, modeling, numerical analysis
Ключевые слова: HTS, Bi2223, bulk, plates, shielding effects, frequency dependence, experimental results
Osamura K., Hojo M., Sugano M., Wada H., Itoh K., Ochiai S., Kuroda T., Okuda H., Shin J.K., Mukai Y., Matsubayashi H.
Ключевые слова: HTS, Bi2223, tapes, composites, bending process, critical current, modeling, numerical analysis, critical caracteristics
Katagiri K., Kasaba K., Kuroda T., Obara T., Itoh K.(itoh.kikuo@nims.go.jp)
Ключевые слова: HTS, Bi2223/Ag, tapes, composites, mechanical properties, bending process, critical current, modeling, numerical analysis, critical caracteristics
Haken B., Kiuchi M., Itoh K., Goldacker W., Katagiri K., Noto K., Ochiai S., Kuroda T.(kuroda.tsuneo@nims.go.jp), Haessler W., Otabe S., Shin H.S.*10, Sosnowski J.*11, Weijers H.*12, Wada H.*13, Kumakura K.
Osamura K., Semerad R., Itoh K., Prusseit W., Kiyoshi T., Sugano M.(sugano@kuee.kyoto-u.ac.jp)
Ключевые слова: HTS, YBCO, REBCO, REBCO, coated conductors, substrate Hastelloy, tensile tests, fracture behavior, ISD process, buffer layers, mechanical properties, critical current, strain effects, stress effects, microstructure, quench properties, fabrication, experimental results, critical caracteristics
Wada H., Itoh K., Kumakura H., Katagiri K., Kuroda T.(kuroda.tsuneo@nims.go.jp), Shin H.-S.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, mechanical strain, mechanical properties, substrate CeO2/IBAD-YSZ/Ni alloy, ISD process, buffer layers, REBCO, co-evaporation process, protection layer Au, critical current, bending process, stress effects, microstructure, experimental results, critical caracteristics, fabrication
Shintomi T., Banno N., Takeuchi T., Itoh K., Nimori S., Tsuchiya K.(kiyosumi.tsuchiya@kek.jp), Kobayashi T.
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.